paviršiaus šiurkštumas

detalės paviršiaus profilograma: a – viršūnių linija, b – įdubų linija; m – vidurio linija, l – matuojamasis ilgis

pavišiaus šiurkštùmas, pavišiaus glotnùmas, techninė charakteristika besikartojančių mikronelygumų, sudarančių paviršiaus reljefą, visumai apibūdinti. Paviršiaus šiurkštumą lemia metalo kristalo gardelės struktūra, grūdėtumas, tekstūra, fizikinis, cheminis poveikis. Dažniausiai mikronelygumai atsiranda paviršiniame sluoksnyje nupjaunant nuo apdirbamos detalės metalo sluoksnį (sluoksnis plastiškai ar tampriai deformuojamas), be to, gali atsirasti dėl trinties, virpesių pjovimo zonoje, įrankio pjovimo briaunos nelygumų, drožlės susidarymo būdo.

Nustatomas pagal 6 standartinius paviršiaus šiurkštumo rodiklius – jie apskaičiuojami iš detalės paviršiaus profilogramos atskaitant nuo mikronelygumų viršūnių, įdubų ir vidurio linijos: profilio šiurkščio vidutinė vertė Ra, profilio nelygumų vidutinis aukštis Rz, atstumas tarp profilio iškilumų ir įdubų linijos tam tikrame matuojamame ilgyje Rmax (apytiksliai lygus Rz), vidutinis nelygumų žingsnis (Sm), vidutinis nelygumų viršūnių žingsnis (Si), santykinis profilio atskaitos ilgis (tp). Dažniausiai paviršiaus šiurkštumas nustatomas naudojantis Ra ir Rz rodikliais, pagal kuriuos yra 14 mechaniškai apdirbto paviršiaus šiurkštumo klasių (nuo 1 iki 14 klasės šiurkštis Ra = 2,5–0,025 μm, o Rz = 320–0,025 μm, matuojamas ilgis 8–0,08 mm). Apdirbamų detalių brėžiniuose paviršiaus šiurkštumas žymimas tarptautinių standartų simboliu – dviem nevienodo ilgio apie 60° kampu paviršiaus taške susikertančiomis linijomis, jei apdirbama nuimant metalo sluoksnį (pvz., tekinant, šlifuojant) virš šio simbolio brėžiamas brūkšnys, jei nenuimant metalo sluoksnio (pvz., kalant, liejant, valcuojant) – apskritimas. Paviršiaus šiurkštumo rodikliai matuojami elektroniniais kontaktiniais šiurkščio matavimo prietaisais (profilometrais, profilografais) arba bekontakčiu optiniu būdu (mikrointerferometrais, mikroskopais).

paviršiaus šiurkštumo žymėjimas detalės brėžinyje

paviršiaus šiurkštumas, atsirandantis dėl veleno dilimo

1375

Papildoma informacija
Turinys
Bendra informacija
Straipsnio informacija
Autorius (-iai)
Redaktorius (-iai)
Publikuota
Redaguota
Siūlykite savo nuotrauką